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测量光学元件镜面反射率的简易高精度方法。

Simple high-precision method for measuring the specular reflectance of optical components.

作者信息

Voss A, Plass W, Giesen A

出版信息

Appl Opt. 1994 Dec 20;33(36):8370-4. doi: 10.1364/AO.33.008370.

DOI:10.1364/AO.33.008370
PMID:20963071
Abstract

We present a simple method to determine precisely the specular reflectance of optical components. The absence of transmissive elements in this method makes a wide spectral range available. High accuracy and precision are achieved with a fast, periodic change between the reference beam and the probe beam. Special efforts were made to eliminate inhomogeneities of beam intensity and detector sensitivity. With our experimental setup we obtain a precision of ±3 × 10(-4) at the wavelength of 10.6 µm and ±3 × 10(-5) at 1.06 µm for a single-bounce-measuring setup.

摘要

我们提出了一种精确测定光学元件镜面反射率的简单方法。该方法中不存在透射元件,从而可实现较宽的光谱范围。通过在参考光束和探测光束之间进行快速、周期性的切换,可实现高精度和高准确度。我们还特别努力消除了光束强度和探测器灵敏度的不均匀性。利用我们的实验装置,对于单次反射测量装置,在波长10.6 µm处可达到±3×10(-4)的精度,在1.06 µm处可达到±3×10(-5)的精度。

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