Suppr超能文献

通过局部氧化纳米光刻技术制备的氧化硅图案上有机化合物的亚50纳米定位。

Sub-50 nm positioning of organic compounds onto silicon oxide patterns fabricated by local oxidation nanolithography.

作者信息

Losilla N S, Oxtoby N S, Martinez J, Garcia F, Garcia R, Mas-Torrent M, Veciana J, Rovira C

机构信息

Instituto de Microelectrónica de Madrid, CSIC, Isaac Newton 8, E-28760 Tres Cantos, Madrid, Spain.

出版信息

Nanotechnology. 2008 Nov 12;19(45):455308. doi: 10.1088/0957-4484/19/45/455308. Epub 2008 Oct 8.

Abstract

We present a process to fabricate molecule-based nanostructures by merging a bottom-up interaction and a top-down nanolithography. Direct nanoscale positioning arises from the attractive electrostatic interactions between the molecules and silicon dioxide nanopatterns. Local oxidation nanolithography is used to fabricate silicon oxide domains with variable gap separations ranging from 40 nm to several microns in length. We demonstrate that an ionic tetrathiafulvalene (TTF) semiconductor can be directed from a macroscopic liquid solution (1 µM) and selectively deposited onto predefined nanoscale regions of a 1 cm(2) silicon chip with an accuracy of 40 nm.

摘要

我们展示了一种通过结合自下而上的相互作用和自上而下的纳米光刻技术来制造基于分子的纳米结构的工艺。直接纳米级定位源于分子与二氧化硅纳米图案之间有吸引力的静电相互作用。局部氧化纳米光刻用于制造长度从40纳米到几微米不等的具有可变间隙间距的氧化硅区域。我们证明,离子四硫富瓦烯(TTF)半导体可以从宏观液体溶液(1 μM)中定向,并以40纳米的精度选择性地沉积到1平方厘米硅芯片的预定义纳米级区域上。

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