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通过多角度分辨 X 射线光电子能谱对生物工程表面进行非破坏性深度剖面重构。

Non-destructive depth profile reconstruction of bio-engineered surfaces by parallel-angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy.

机构信息

Dipartimento di Chimica, Università degli Studi di Bari Aldo Moro, Bari, Italy.

出版信息

Anal Bioanal Chem. 2013 Jan;405(2-3):713-24. doi: 10.1007/s00216-012-6179-0. Epub 2012 Jun 24.

DOI:10.1007/s00216-012-6179-0
PMID:22729355
Abstract

In the present, contribution angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy (AR-XPS) was proposed as a useful tool to address the challenge of probing the near-surface region of bio-active sensor surfaces. A model bio-functionalised surface was characterised by parallel AR-XPS and commercially available Thermo Avantage-ARProcess software was used to generate non-destructive concentration depth profiles of protein-functionalised silicon oxide substrates. At each step of the functionalisation procedure, the surface composition, the overlayer thickness, the in-depth organisation and the in-plane homogeneity were evaluated. The critical discussion of the generated profiles highlighted the relevance of the information provided by PAR-XPS technique.

摘要

目前,角分辨 X 射线光电子能谱(AR-XPS)被提议作为一种有用的工具,以解决探测生物活性传感器表面近表面区域的挑战。通过平行 AR-XPS 对模型生物功能化表面进行了表征,并使用商业上可获得的 Thermo Avantage-ARProcess 软件生成了蛋白质功能化氧化硅基底的非破坏性浓度深度分布。在功能化过程的每一步,都评估了表面组成、覆盖层厚度、深度组织和平面均匀性。对生成的分布的批判性讨论强调了 PAR-XPS 技术提供的信息的相关性。

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