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基于单源前体制备的硫化铋纳米片的动态随机存取存储器器件。

Dynamic random access memory devices based on bismuth sulfide nanoplates prepared from a single source precursor.

机构信息

Key laboratory of Organic Synthesis in Jiangsu Province, College of Chemistry, Chemical Engineering and Materials Science, Soochow University, Suzhou, 215123, China.

出版信息

Phys Chem Chem Phys. 2013 Jul 21;15(27):11554-8. doi: 10.1039/c3cp50700a. Epub 2013 Jun 10.

DOI:10.1039/c3cp50700a
PMID:23752653
Abstract

Semiconducting bismuth sulfide (Bi2S3) nanoplates with unique highly oriented {001} surfaces were prepared on a large scale using a novel organic precursor Bi(DTCA)3 (DTCA = carbazole-9-carbodithioic acid). The as-prepared Bi2S3 nanoplates were dispersed in dimethyl sulfoxide (DMSO) and spin-coated onto an indium tin oxide (ITO) coated glass substrate. With a simple ITO/Bi2S3/Al stacked structure, the fabricated sandwich-like memory device demonstrates dynamic random access memory (DRAM) characteristics with a maximum ON/OFF current ratio up to 10(6) and a long retention time. It is suggested that the volatile nature of the memory device comes from the Schottky contact between the Bi2S3 nanoplates and the Al electrodes.

摘要

半导体硫化铋 (Bi2S3) 纳米板具有独特的高度取向的 {001} 表面,使用新型有机前体 Bi(DTCA)3 (DTCA = 咔唑-9-碳二硫代酸) 可大规模制备。所制备的 Bi2S3 纳米板分散在二甲基亚砜 (DMSO) 中,并旋涂到氧化铟锡 (ITO) 涂覆的玻璃基板上。采用简单的 ITO/Bi2S3/Al 堆叠结构,所制造的三明治状存储器件表现出动态随机存取存储器 (DRAM) 特性,最大 ON/OFF 电流比高达 10(6),且保留时间长。据认为,存储器件的易失性源于 Bi2S3 纳米板和 Al 电极之间的肖特基接触。

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