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通过硫单层掺杂研究掺杂物激活和 In(0.53)Ga(0.47)As 中自由电子密度的拉曼光谱。

Raman spectroscopy studies of dopant activation and free electron density of In(0.53)Ga(0.47)As via sulfur monolayer doping.

机构信息

Department of Chemistry and the New York State Center of Excellence in Materials Informatics, University at Buffalo, The State University of New York, Buffalo, NY 14260-3000, USA.

出版信息

Phys Chem Chem Phys. 2014 Apr 14;16(14):6539-43. doi: 10.1039/c4cp00111g. Epub 2014 Feb 26.

DOI:10.1039/c4cp00111g
PMID:24569809
Abstract

We present a Raman spectroscopy study of electron-phonon coupling in In0.53Ga0.47As epilayers doped via the sulfur-monolayer doping method. A high-frequency coupled mode (HFCM) detected above 400 cm(-1) shifts with increasing charge carrier density and allows for extraction of the activated dopant concentrations.

摘要

我们呈现了一项关于通过硫单层掺杂法掺杂的 In0.53Ga0.47As 外延层中电子-声子耦合的拉曼光谱研究。在 400 cm(-1) 以上检测到的高频耦合模式(HFCM)随载流子密度的增加而移动,并且可以提取激活掺杂剂浓度。

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引用本文的文献

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