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采用单原子尖端源的双棱镜电子干涉测量法。

Biprism electron interferometry with a single atom tip source.

作者信息

Schütz G, Rembold A, Pooch A, Meier S, Schneeweiss P, Rauschenbeutel A, Günther A, Chang W T, Hwang I S, Stibor A

机构信息

Institute of Physics and Center for Collective Quantum Phenomena in LISA(+), University of Tübingen, Auf der Morgenstelle 15, 72076 Tübingen, Germany.

Vienna Center for Quantum Science and Technology, TU Wien - Atominstitut, 1020 Vienna, Austria.

出版信息

Ultramicroscopy. 2014 Jun;141:9-15. doi: 10.1016/j.ultramic.2014.02.003. Epub 2014 Mar 12.

DOI:10.1016/j.ultramic.2014.02.003
PMID:24704604
Abstract

Experiments with electron or ion matter waves require a coherent, monochromatic and long-term stable source with high brightness. These requirements are best fulfilled by single atom tip (SAT) field emitters. The performance of an iridium covered W(111) SAT is demonstrated and analyzed for electrons in a biprism interferometer. Furthermore we characterize the emission of the SAT in a separate field electron and field ion microscope and compare it with other emitter types. A new method is presented to fabricate the electrostatic charged biprism wire that separates and combines the matter wave. In contrast to other biprism interferometers the source and the biprism size are well defined within a few nanometers. The setup has direct applications in ion interferometry and Aharonov-Bohm physics.

摘要

电子或离子物质波实验需要一个具有高亮度的相干、单色且长期稳定的源。单原子尖端(SAT)场发射体最能满足这些要求。我们展示并分析了在双棱镜干涉仪中用于电子的铱覆盖的W(111) SAT的性能。此外,我们在单独的场电子显微镜和场离子显微镜中对SAT的发射进行了表征,并将其与其他发射体类型进行了比较。提出了一种制造用于分离和组合物质波的静电双棱镜线的新方法。与其他双棱镜干涉仪不同,源和双棱镜尺寸在几纳米范围内得到了很好的定义。该装置在离子干涉测量和阿哈罗诺夫 - 玻姆物理学中有直接应用。

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Biprism electron interferometry with a single atom tip source.采用单原子尖端源的双棱镜电子干涉测量法。
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引用本文的文献

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