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扫描三劳厄X射线干涉测量装置中的散焦移动条纹。

Defocused travelling fringes in a scanning triple-Laue X-ray interferometry setup.

作者信息

Sasso C P, Mana G, Massa E

机构信息

INRIM - Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, strada delle cacce 91, 10135 Torino, Italy.

UNITO - Università di Torino, Dipartimento di Fisica, via Pietro Giuria 1, 10125 Torino, Italy.

出版信息

J Appl Crystallogr. 2021 Sep 13;54(Pt 5):1403-1408. doi: 10.1107/S1600576721007962. eCollection 2021 Oct 1.

DOI:10.1107/S1600576721007962
PMID:34667449
原文链接:https://pmc.ncbi.nlm.nih.gov/articles/PMC8493625/
Abstract

The measurement of the silicon lattice parameter by a separate-crystal triple-Laue X-ray interferometer is a key step for the realization of the kilogram by counting atoms. Since the measurement accuracy is approaching nine significant digits, a reliable model of the interferometer operation is required to quantify or exclude systematic errors. This paper investigates both analytically and experimentally the effect of the defocus (the difference between the splitter-to-mirror and analyser-to-mirror distances) on the phase of the interference fringes and the measurement of the lattice parameter.

摘要

使用分立晶体三劳厄X射线干涉仪测量硅晶格参数是通过对原子进行计数来实现千克定义的关键步骤。由于测量精度已接近九位有效数字，因此需要一个可靠的干涉仪操作模型来量化或排除系统误差。本文通过分析和实验研究了离焦（分束器到反射镜和分析器到反射镜的距离之差）对干涉条纹相位和晶格参数测量的影响。

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