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Structural investigation of a-Si and a-Si:H using x-ray-absorption spectroscopy at the Si K edge.

作者信息

Filipponi A, Evangelisti F, Benfatto M, Mobilio S, Natoli CR

出版信息

Phys Rev B Condens Matter. 1989 Nov 15;40(14):9636-9643. doi: 10.1103/physrevb.40.9636.

DOI:10.1103/physrevb.40.9636
PMID:9991483
Abstract
摘要

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Structural investigation of a-Si and a-Si:H using x-ray-absorption spectroscopy at the Si K edge.利用硅K边的X射线吸收光谱对非晶硅和氢化非晶硅进行结构研究。
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