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Observation of single charge carriers by force microscopy.

作者信息

Schönenberger C, Alvarado SF

出版信息

Phys Rev Lett. 1990 Dec 17;65(25):3162-3164. doi: 10.1103/PhysRevLett.65.3162.

DOI:10.1103/PhysRevLett.65.3162
PMID:10042797
Abstract
摘要

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Observation of single charge carriers by force microscopy.通过力显微镜观察单个电荷载流子。
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