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声表面波谐振器1/f噪声对器件尺寸的依赖性。

Dependence of SAW resonator 1/f noise on device size.

作者信息

Parker T E

机构信息

Raytheon Co., Lexington, MA.

出版信息

IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control. 1993;40(6):831-3. doi: 10.1109/58.248231.

DOI:10.1109/58.248231
PMID:18263254
Abstract

Experiments were conducted with eight 450-MHz surface acoustic wave (SAW) resonators which demonstrate that a resonator's 1/f noise depends approximately inversely on the active acoustic area of the device. This observation is consistent with a proposed theory that 1/f noise in acoustic resonators is caused by localized velocity or dimensional fluctuations.

摘要

使用八个450兆赫的表面声波（SAW）谐振器进行了实验，结果表明谐振器的1/f噪声大约反比于器件的有效声学面积。这一观察结果与一种提出的理论一致，该理论认为声学谐振器中的1/f噪声是由局部速度或尺寸波动引起的。

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