• 文献检索
  • 文档翻译
  • 深度研究
  • 学术资讯
  • Suppr Zotero 插件Zotero 插件
  • 邀请有礼
  • 套餐&价格
  • 历史记录
应用&插件
Suppr Zotero 插件Zotero 插件浏览器插件Mac 客户端Windows 客户端微信小程序
定价
高级版会员购买积分包购买API积分包
服务
文献检索文档翻译深度研究API 文档MCP 服务
关于我们
关于 Suppr公司介绍联系我们用户协议隐私条款
关注我们

Suppr 超能文献

核心技术专利:CN118964589B侵权必究
粤ICP备2023148730 号-1Suppr @ 2026

文献检索

告别复杂PubMed语法,用中文像聊天一样搜索,搜遍4000万医学文献。AI智能推荐,让科研检索更轻松。

立即免费搜索

文件翻译

保留排版,准确专业,支持PDF/Word/PPT等文件格式,支持 12+语言互译。

免费翻译文档

深度研究

AI帮你快速写综述,25分钟生成高质量综述,智能提取关键信息,辅助科研写作。

立即免费体验

影响 STEM-EDS 谱图像定量分析的关键参数。

Key parameters affecting quantitative analysis of STEM-EDS spectrum images.

机构信息

Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM 87185, USA.

出版信息

Microsc Microanal. 2010 Jun;16(3):259-72. doi: 10.1017/S1431927610000267. Epub 2010 Apr 8.

DOI:10.1017/S1431927610000267
PMID:20374685
Abstract

In this article, we use simulated and experimental data to explore how three operator-controllable parameters--(1) signal level, (2) detector resolution, and (3) number of factors chosen for analysis--affect quantitative analyses of scanning transmission electron microscopy-energy dispersive X-ray spectroscopy spectrum images processed by principal component analysis (PCA). We find that improvements in both signal level and detector resolution improve the precision of quantitative analyses, but that signal level is the most important. We also find that if the rank of the PCA solution is not chosen properly, it may be possible to improperly fit the underlying data and degrade the accuracy of results. Additionally, precision is degraded in the case when too many factors are included in the model.

摘要

在本文中,我们使用模拟和实验数据来探讨三个操作员可控制的参数——(1)信号水平,(2)探测器分辨率,以及(3)用于分析的因子数量——如何影响通过主成分分析(PCA)处理的扫描透射电子显微镜-能量色散 X 射线光谱图像的定量分析。我们发现,信号水平和探测器分辨率的提高都可以提高定量分析的精度,但信号水平是最重要的。我们还发现,如果 PCA 解的秩选择不当,则可能无法正确拟合基础数据并降低结果的准确性。此外,当模型中包含太多因子时,精度会降低。

相似文献

1
Key parameters affecting quantitative analysis of STEM-EDS spectrum images.影响 STEM-EDS 谱图像定量分析的关键参数。
Microsc Microanal. 2010 Jun;16(3):259-72. doi: 10.1017/S1431927610000267. Epub 2010 Apr 8.
2
Multivariate statistics applications in phase analysis of STEM-EDS spectrum images.多元统计分析在 STEM-EDS 能谱图像相分析中的应用。
Ultramicroscopy. 2010 Jan;110(2):134-43. doi: 10.1016/j.ultramic.2009.10.011. Epub 2009 Oct 24.
3
A system for acquiring simultaneous electron energy-loss and X-ray spectrum-images.一种用于同时获取电子能量损失谱图像和X射线谱图像的系统。
J Microsc. 2004 Jul;215(Pt 1):92-9. doi: 10.1111/j.0022-2720.2004.01342.x.
4
35 years of EDS software.35 年的 EDS 软件。
Microsc Microanal. 2009 Dec;15(6):491-504. doi: 10.1017/S1431927609991085.
5
Artifacts in energy dispersive x-ray spectrometry in the scanning electron microscope (II).扫描电子显微镜中能量色散X射线光谱分析中的假象(二)
Scan Electron Microsc. 1980(Pt 2):251-8, 250.
6
Quantitative atomic resolution mapping using high-angle annular dark field scanning transmission electron microscopy.使用高角度环形暗场扫描透射电子显微镜进行定量原子分辨率映射。
Ultramicroscopy. 2009 Sep;109(10):1236-44. doi: 10.1016/j.ultramic.2009.05.010. Epub 2009 May 27.
7
The new X-ray mapping: X-ray spectrum imaging above 100 kHz output count rate with the silicon drift detector.新型X射线映射:采用硅漂移探测器实现100 kHz以上输出计数率的X射线光谱成像。
Microsc Microanal. 2006 Feb;12(1):26-35. doi: 10.1017/S143192760606020X.
8
Two-dimensional quantitative mapping of arsenic in nanometer-scale silicon devices using STEM EELS-EDX spectroscopy.使用扫描透射电子显微镜电子能量损失谱-能量色散X射线光谱法对纳米级硅器件中的砷进行二维定量映射。
Micron. 2009 Jul-Aug;40(5-6):543-51. doi: 10.1016/j.micron.2009.04.003. Epub 2009 Apr 18.
9
Modeling atomic-resolution scanning transmission electron microscopy images.原子分辨率扫描透射电子显微镜图像建模。
Microsc Microanal. 2008 Feb;14(1):48-59. doi: 10.1017/S1431927608080112. Epub 2007 Dec 21.
10
Artifacts in aberration-corrected ADF-STEM imaging.像差校正环形暗场扫描透射电子显微镜成像中的伪像
Ultramicroscopy. 2003 Sep;96(3-4):275-84. doi: 10.1016/S0304-3991(03)00093-7.

引用本文的文献

1
Chemical State of Potassium on the Surface of Iron Oxides: Effects of Potassium Precursor Concentration and Calcination Temperature.氧化铁表面钾的化学状态:钾前驱体浓度和煅烧温度的影响
Materials (Basel). 2022 Oct 21;15(20):7378. doi: 10.3390/ma15207378.
2
Towards Automatic Detection of Precipitates in Inconel 625 Superalloy Additively Manufactured by the L-PBF Method.面向通过激光粉末床熔融(L-PBF)方法增材制造的Inconel 625高温合金中析出物的自动检测
Materials (Basel). 2021 Aug 11;14(16):4507. doi: 10.3390/ma14164507.
3
Ultra Uniform PbLa(ZrTi)O₃ Thin Films with Tunable Optical Properties Fabricated via Pulsed Laser Deposition.
通过脉冲激光沉积制备的具有可调光学特性的超均匀PbLa(ZrTi)O₃薄膜。
Materials (Basel). 2018 Mar 29;11(4):525. doi: 10.3390/ma11040525.