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使用非光刻的 InAs 纳米线掩模,通过 MacEtch 形成亚 100nm 的 Si 纳米线和纳米片阵列。

Sub-100 nm Si nanowire and nano-sheet array formation by MacEtch using a non-lithographic InAs nanowire mask.

机构信息

Department of Electrical and Computer Engineering, Micro and Nanotechnology Laboratory, Materials Research Laboratory, University of Illinois, Urbana, IL 61801, USA.

出版信息

Nanotechnology. 2012 Aug 3;23(30):305305. doi: 10.1088/0957-4484/23/30/305305. Epub 2012 Jul 11.

DOI:10.1088/0957-4484/23/30/305305
PMID:22781145
Abstract

We report a non-lithographical method for the fabrication of ultra-thin silicon (Si) nanowire (NW) and nano-sheet arrays through metal-assisted-chemical-etching (MacEtch) with gold (Au). The mask used for metal patterning is a vertical InAs NW array grown on a Si substrate via catalyst-free, strain-induced, one-dimensional heteroepitaxy. Depending on the Au evaporation angle, the shape and size of the InAs NWs are transferred to Si by Au-MacEtch as is (NWs) or in its projection (nano-sheets). The Si NWs formed have diameters in the range of ∼25-95 nm, and aspect ratios as high as 250 in only 5 min etch time. The formation process is entirely free of organic chemicals, ensuring pristine Au-Si interfaces, which is one of the most critical requirements for high yield and reproducible MacEtch.

摘要

我们报告了一种非光刻法,通过金属辅助化学刻蚀(MacEtch)用金(Au)制造超薄膜硅(Si)纳米线(NW)和纳米片阵列。用于金属图案化的掩模是通过无催化剂、应变诱导的一维异质外延在 Si 衬底上生长的垂直 InAs NW 阵列。根据 Au 蒸发角度的不同,通过 Au-MacEtch 将 InAs NW 的形状和尺寸以原样(NWs)或其投影(纳米片)转移到 Si 上。形成的 Si NW 的直径在 ∼25-95nm 范围内,在仅 5 分钟的蚀刻时间内,高可达 250 的纵横比。该形成过程完全不使用有机化学品,确保了原始的 Au-Si 界面,这是高产量和可重复的 MacEtch 的最关键要求之一。

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