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高分辨率透射电子显微镜在钾长石位错精细结构研究中的应用。

An application of high-resolution transmission electron microscopy to the study of the fine structure of dislocations in potassium feldspars.

作者信息

Zheng Y L, Gandais M

机构信息

Laboratoire de Minéralogie-Cristallographie, associé au CNRS, Universités P. et M. Curie, Paris, France.

出版信息

J Electron Microsc Tech. 1989 Mar;11(3):234-7. doi: 10.1002/jemt.1060110309.

Abstract

An application of high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) to the study of two types of dislocations in potassium feldspars (K-feldspars) is shown here. HRTEM images were submitted to a filtering in order to improve their interpretation. One type of dislocation--(010)[001]--appears to be dissociated, with (010)[001]/2 planar defect, whereas the other one--(010)[110]/2--is perfect. This result helps provide an understanding of dislocation activation in this material.

摘要

本文展示了高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)在研究钾长石(K-长石)中两种位错类型方面的应用。HRTEM图像经过滤波处理以提高其可解释性。一种位错——(010)[001]——似乎发生了分解,伴有(010)[001]/2平面缺陷,而另一种位错——(010)[110]/2——是完整的。这一结果有助于理解这种材料中位错的激活情况。

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