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分数量子霍尔效应中的负Δ-T噪声

Negative Delta-T Noise in the Fractional Quantum Hall Effect.

作者信息

Rech J, Jonckheere T, Grémaud B, Martin T

机构信息

Aix Marseille Univ, Université de Toulon, CNRS, CPT, Marseille, France.

出版信息

Phys Rev Lett. 2020 Aug 21;125(8):086801. doi: 10.1103/PhysRevLett.125.086801.

DOI:10.1103/PhysRevLett.125.086801
PMID:32909784
Abstract

We study the current correlations of fractional quantum Hall edges at the output of a quantum point contact subjected to a temperature gradient. This out-of-equilibrium situation gives rise to a form of temperature-activated shot noise, dubbed delta-T noise. We show that the tunneling of Laughlin quasiparticles leads to a negative delta-T noise, in stark contrast with electron tunneling. Moreover, varying the transmission of the quantum point contact or applying a voltage bias across the Hall bar may flip the sign of this noise contribution, yielding signatures that can be accessed experimentally.

摘要

我们研究了处于温度梯度下的量子点接触输出端的分数量子霍尔边缘的电流相关性。这种非平衡情况会产生一种温度激活散粒噪声,称为ΔT噪声。我们表明,与电子隧穿形成鲜明对比的是,劳克林准粒子的隧穿会导致负的ΔT噪声。此外,改变量子点接触的透射率或在霍尔条两端施加电压偏置可能会翻转这种噪声贡献的符号,产生可通过实验获取的特征。

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