Suppr超能文献

Xe 4d 电离后双俄歇 - 迈特纳衰变的时间分辨多电子符合光谱学

Time-Resolved Multielectron Coincidence Spectroscopy of Double Auger-Meitner Decay Following Xe 4d Ionization.

作者信息

Zhang Pengju, Trester Joel, Ueda Kiyoshi, Han Meng, Balčiūnas Tadas, Wörner Hans Jakob

机构信息

Laboratory for Physical Chemistry, ETH Zürich, Vladimir-Prelog-Weg 2, 8093 Zürich, Switzerland.

Department of Chemistry, Tohoku University, Sendai, 980-8578, Japan.

出版信息

Phys Rev Lett. 2024 Feb 23;132(8):083201. doi: 10.1103/PhysRevLett.132.083201.

Abstract

We introduce time-resolved multielectron coincidence spectroscopy and apply it to the double Auger-Meitner (AM) emission process following xenon 4d photoionization. The photoelectron and AM electron(s) are measured in coincidence by using a magnetic-bottle time-of-flight spectrometer, enabling an unambiguous assignment of the complete cascade pathways involving two AM electron emissions. In the presence of a near-infrared (NIR) laser pulse, the intermediate Xe^{2+} state embedded in the Xe^{3+} continuum is probed through single NIR photon absorption and the lifetime of this intermediate Xe^{2+} state is directly obtained as (109±22)  fs.

摘要

我们引入了时间分辨多电子符合光谱技术,并将其应用于氙4d光电离后的双俄歇-迈特纳(AM)发射过程。通过使用磁瓶飞行时间光谱仪对光电子和AM电子进行符合测量,从而能够明确确定涉及两次AM电子发射的完整级联路径。在近红外(NIR)激光脉冲存在的情况下,通过单NIR光子吸收探测嵌入Xe³⁺连续谱中的中间Xe²⁺*态,并直接测得该中间Xe²⁺*态的寿命为(109±22) fs。

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