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单个轴向 InAs₁₋ₓPx 纳米线段的 X 射线衍射应变分析。

X-ray diffraction strain analysis of a single axial InAs 1-x Px nanowire segment.

作者信息

Keplinger Mario, Mandl Bernhard, Kriegner Dominik, Holý Václav, Samuelsson Lars, Bauer Günther, Deppert Knut, Stangl Julian

机构信息

Solid State and Semiconductor Physics, Johannes Kepler University Linz, A-4040 Linz, Austria.

Faculty of Mathematics and Physics, Charles University, Ke Karlovu 5, 121 16 Prague, Czech Republic.

出版信息

J Synchrotron Radiat. 2015 Jan;22(1):59-66. doi: 10.1107/S160057751402284X. Epub 2015 Jan 1.

DOI:10.1107/S160057751402284X
PMID:25537589
原文链接:https://pmc.ncbi.nlm.nih.gov/articles/PMC4294024/
Abstract

The spatial strain distribution in and around a single axial InAs 1-x Px hetero-segment in an InAs nanowire was analyzed using nano-focused X-ray diffraction. In connection with finite-element-method simulations a detailed quantitative picture of the nanowire's inhomogeneous strain state was achieved. This allows for a detailed understanding of how the variation of the nanowire's and hetero-segment's dimensions affect the strain in its core region and in the region close to the nanowire's side facets. Moreover, ensemble-averaging high-resolution diffraction experiments were used to determine statistical information on the distribution of wurtzite and zinc-blende crystal polytypes in the nanowires.

摘要

使用纳米聚焦X射线衍射分析了InAs纳米线中单个轴向InAs 1-x Px异质段及其周围的空间应变分布。结合有限元方法模拟，获得了纳米线非均匀应变状态的详细定量图像。这有助于详细了解纳米线和异质段尺寸的变化如何影响其核心区域以及纳米线侧面附近区域的应变。此外，还利用系综平均高分辨率衍射实验来确定纳米线中纤锌矿和闪锌矿晶体多型分布的统计信息。

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