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通过碳化硅超透镜的近场显微镜技术。

Near-field microscopy through a SiC superlens.

作者信息

Taubner Thomas, Korobkin Dmitriy, Urzhumov Yaroslav, Shvets Gennady, Hillenbrand Rainer

机构信息

Nano-Photonics Group, Max-Planck-Institut für Biochemie, Am Klopferspitz 18, D-82152 Martinsried, Germany.

出版信息

Science. 2006 Sep 15;313(5793):1595. doi: 10.1126/science.1131025.

DOI:10.1126/science.1131025
PMID:16973871
Abstract

The wave nature of light limits the spatial resolution in classical microscopy to about half of the illumination wavelength. Recently, a new approach capable of achieving subwavelength spatial resolution, called superlensing, was invented, challenging the already established method of scanning near-field optical microscopy (SNOM). We combine the advantages of both techniques and demonstrate a novel imaging system where the objects no longer need to be in close proximity to a near-field probe, allowing for optical near-field microscopy of subsurface objects at sub-wavelength-scale lateral resolution.

摘要

光的波动性质将经典显微镜中的空间分辨率限制在照明波长的大约一半左右。最近,一种能够实现亚波长空间分辨率的新方法——超透镜被发明出来,对已确立的扫描近场光学显微镜(SNOM)方法提出了挑战。我们结合了这两种技术的优点,并展示了一种新颖的成像系统,在该系统中,物体不再需要靠近近场探针,从而能够以亚波长尺度的横向分辨率对地下物体进行光学近场显微镜观察。

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