Smith D, Baumeister P
Appl Opt. 1979 Jan 1;18(1):111-5. doi: 10.1364/AO.18.000111.
Spectroreflectometry was used to measure the refractive index of the following optical coating materials: Ta(2)O(5), HfO(2), Y(2)0(3), La(2)O(3), ZrO(2), CeO(2), CeF(3), LaF(3), NdF(3), MgF(2) in the 250-2000-nm spectral range.
采用分光反射测量法在250 - 2000纳米光谱范围内测量了以下光学涂层材料的折射率：Ta(2)O(5)、HfO(2)、Y(2)0(3)、La(2)O(3)、ZrO(2)、CeO(2)、CeF(3)、LaF(3)、NdF(3)、MgF(2) 。
