Suppr超能文献

用于多keV能区的超高分辨率区加倍衍射X射线光学器件。

Ultra-high resolution zone-doubled diffractive X-ray optics for the multi-keV regime.

作者信息

Vila-Comamala Joan, Gorelick Sergey, Färm Elina, Kewish Cameron M, Diaz Ana, Barrett Ray, Guzenko Vitaliy A, Ritala Mikko, David Christian

机构信息

Paul Scherrer Institut, Villigen, Switzerland.

出版信息

Opt Express. 2011 Jan 3;19(1):175-84. doi: 10.1364/OE.19.000175.

Abstract

X-ray microscopy based on Fresnel zone plates is a powerful technique for sub-100 nm resolution imaging of biological and inorganic materials. Here, we report on the modeling, fabrication and characterization of zone-doubled Fresnel zone plates for the multi-keV regime (4-12 keV). We demonstrate unprecedented spatial resolution by resolving 15 nm lines and spaces in scanning transmission X-ray microscopy, and focusing diffraction efficiencies of 7.5% at 6.2 keV photon energy. These developments represent a significant step towards 10 nm spatial resolution for hard X-ray energies of up to 12 keV.

摘要

基于菲涅耳波带片的X射线显微镜是一种用于对生物和无机材料进行亚100纳米分辨率成像的强大技术。在此,我们报告了用于多keV能区(4 - 12 keV)的双倍波带菲涅耳波带片的建模、制造和表征。我们通过在扫描透射X射线显微镜中分辨出15纳米的线条和间距,并在6.2 keV光子能量下实现了7.5%的聚焦衍射效率,展示了前所未有的空间分辨率。这些进展代表了朝着在高达12 keV的硬X射线能量下实现10纳米空间分辨率迈出的重要一步。

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